Torna ai risultati della ricercaBando per incarichi di ricerca
| Titolo del progetto dell'incarico in italiano | 2/2026/INCARICO DI RICERCA - Spettroscopia di precisione di ioni intrappolati con laser ultrastretti |
|---|---|
| Titolo del progetto ddell'incarico in inglese | 2/2026/INCARICO DI RICERCA - Precision spectroscopy of trapped ions with ultra-narrow lasers |
| Campo principale | Physics |
| Sottocampo | Metrology |
| G.S.D. | 02/PHYS-03 - FISICA SPERIMENTALE DELLA MATERIA E APPLICAZIONI |
| S.S.D | - |
| Descrizione sintetica in italiano | Il progetto si articola in due attività integrate. La prima riguarda lo sviluppo e l’ottimizzazione di sorgenti laser a linea stretta basate su Extended Cavity Diode Lasers (ECDL), a partire da un design proprietario. L’attività prevede la modifica delle sorgenti esistenti e la realizzazione di emissione nel visibile/blu (ad esempio 455 nm), rilevante per la spettroscopia dello ione Ba⁺, con particolare attenzione alla stabilità in frequenza e alla riduzione della larghezza di linea. La seconda parte prevede l’impiego di tali sorgenti in esperimenti di spettroscopia di precisione su pochi ioni Ba⁺ intrappolati, al fine di caratterizzare sia le prestazioni dei laser sia le proprietà elettriche della trappola, inclusa la misura dei rate di riscaldamento, in vista dello sviluppo e della validazione di nuove trappole su chip. |
| Descrizione sintetica in inglese | The project consists of two integrated activities. The first focuses on the development and optimization of narrow-linewidth laser sources based on Extended Cavity Diode Lasers (ECDLs), starting from a proprietary design. The work includes modifying existing sources and developing emission in the visible/blue range (e.g., 455 nm), relevant for Ba⁺ ion spectroscopy, with particular attention to frequency stability and linewidth reduction. The second part involves using these sources in precision spectroscopy experiments on a few trapped Ba⁺ ions, in order to characterize both laser performance and the electrical properties of the trap, including heating rate measurements, with the goal of supporting the development and validation of new chip-based ion traps. |
| Data del bando | 18/05/2026 |
| Numero di assegnazioni per anno | 1 |
| E' richiesta mobilità internazionale? | yes |
| Paesi in cui può essere condotto l'incarico |
Austria Italy |
| Paesi di residenza dei candidati |
OTHER |
| Nazionalità dei candidati |
OTHER |
| Sito web del bando | https://www.inrim.it/it/bandi-di-concorso/incarichi-di-ricerca |
| Destinatari dell'incarico di ricerca (of target group) |
Early stage researcher or 0-4 yrs (Post graduate) Experienced researcher or 4-10 yrs (Post-Doc) |
|---|---|
| Importo annuale | 32000 |
| Valuta | Euro |
| Comprende lo stipendio dell'assegnista | yes |
| Comprende vitto e spese di viaggio | no |
| Massima durata dell'assegno (mesi) | 12 |
| Criteri di selezione in italiano (breve descrizione) | Titoli e colloquio |
| Criteri di selezione in inglese (breve descrizione) | Qualifications and interview |
| Processo di selezione in italiano (breve descrizione) | Selezione pubblica per titoli e colloquio |
| Processo di selezione in inglese (breve descrizione) | Public selection for Qualifications and interview |
| Nome dell'Ente finanziatore | Istituto Nazionale di Ricerca Metrologica |
|---|---|
| Tipologia dell'Ente | Public research |
| Paese dell'Ente | Italy |
| Città | Sesto Fiorentino |
| Sito web | https://www.inrim.it/it |
| c.sias@inrim.it |
| L'incarico finanziato/cofinanziato attraverso un EU Research Framework Programme? | H2020 |
|---|
| Data di scadenza del bando | 03/06/2026 - alle ore 23:59 |
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| Come candidarsi | Other |