Torna ai risultati della ricercaBando per assegno di ricerca
| Titolo del progetto di ricerca in italiano | Crescita&caratterizz.di campioni con nuove architetture basate su materiali ad alta correlaz. elettronica mediante ablazione laser e caratterizz. strutturale, elettronica e magnetica inclusi metodi basati sull’uso della luce di sincrotrone-Prg NFFA |
|---|---|
| Titolo del progetto di ricerca in inglese | Growth & characterization of advanced sample architectures based on highly correlated electron materials by means of in-situ laser ablation, structural, electronic and magnetic characterization including synchrotron radiation methods - NFFA |
| Campo principale della ricerca | Physics |
| Sottocampo della ricerca | Condensed matter properties |
| Settore Concorsuale | 02 - Scienze fisiche |
| S.S.D | - |
| Descrizione sintetica in italiano | Il vincitore collaborerà all’attività sperimentale riguardante lo sviluppo dei protocolli per la deposizione di materiali ed eterostrutture in forma di film sottili mediante tecnica di deposizione per ablazione laser pulsata, in particolare per lo studio di eterostrutture di materiali a forte correlazione elettronica. Il vincitore collaborerà anche alla caratterizzazione strutturale mediante diffrazione a raggi X e allo studio delle proprietà elettroniche e magnetiche di tali sistemi mediante spettroscopie con radiazione di sincrotrone. L’attività si svolgerà nell’ambito del Prg Strategico di interesse nazionale italiano NFFA-Trieste e del Prg RIA Horizon 2020 NFFA-Europe nel il laboratorio NFFA-IOM(CNR) presso Elettra a Trieste. |
| Descrizione sintetica in inglese | The successful candidate will contribute to the experimental activities concerning the development of protocols for the growth of materials and heterostructures thin films by Pulsed Laser Deposition, in particular for the study of heterostructures based on strongly electron correlated materials. The candidate will also work on the structural characterization of the grown materials/heterostructures by X-ray diffraction and to the investigation of the electronic and magnetic properties of such systems by means of synchrotron radiation spectroscopies.The activity will be carried out in the framework of the Italian Strategic Project NFFA and H2020 RIA Project NFFA-Europe at the NFFA-IOM(CNR) laboratory c/o Elettra in Trieste. |
| Data del bando | 19/12/2017 |
| Numero di assegnazioni per anno | 1 |
| Paesi in cui può essere condotta la ricerca |
Italy |
| Paesi di residenza dei candidati |
OTHER |
| Nazionalità dei candidati |
OTHER |
| Sito web del bando | http://bandi.urp.cnr.it/doc-assegni/documentazione/7652_DOC_IT.pdf |
| Destinatari dell'assegno di ricerca (of target group) |
Early stage researcher or 0-4 yrs (Post graduate) |
|---|---|
| Il contratto prevede la copertura delle prestazioni sociali? | no |
| Importo annuale | 19367 |
| Valuta | Euro |
| Comprende lo stipendio dell'assegnista | yes |
| Comprende vitto e spese di viaggio | no |
| Comprende il costo della ricerca | no |
| Massima durata dell'assegno (mesi) | 12 |
| Criteri di selezione in italiano (breve descrizione) |
Valutazione dei titoli e colloquio. Requisiti: a)diploma di laurea in Fisica o materie affini; b)comprovata esperienza nel campo della deposizione di film sottili e del monitoraggio della crescita in-situ mediante diagnostica RHEED, nonché buona conoscenza delle tematiche di ricerca tipiche della scienza dei materiali generalmente affrontate con la diffrazione raggi X circa le proprietà strutturali (e.g. strain indotto da substrati) e con tecniche avanzate utilizzanti luce di sincrotrone circa le proprietà elettroniche (e.g. X-ray Photoemission, X-ray Absorption spectroscopies); c)conoscenza del computer, in particolare software nel campo del trattamento e dell’analisi dei dati. d)conoscenza della lingua Inglese; e)conoscenza della lingua italiana (per gli stranieri). |
| Criteri di selezione in inglese (breve descrizione) |
Titles evaluation and interview. Qualifications and experience: Master and PhD in Physics or similar proven experience in thin film deposition research and in-situ growth monitoring RHEED technique, as well as good knowledge of typical materials science research topics concerning structural (e.g. substrate induce strained thin film growth) and electronic properties, addressed by X-ray Diffraction and synchrotron based advanced techniques (e.g. X-ray photo-emission and X-ray absorption spectroscopies). Knowledge in computer basics with particular reference to data analysis and treatment. |
| Processo di selezione in italiano (breve descrizione) |
L'avviso di convocazione al colloquio è inviato ai candidati ammessi almeno 20 giorni prima della data in cui è fissato. Durante la prova colloquio, verrà data ai candidati la possibilità di illustrare la propria attività di ricerca mediante una presentazione della durata di 15 minuti da tenersi in lingua inglese. |
| Processo di selezione in inglese (breve descrizione) |
A reserve list of accepted applications will be set up. These candidates will be invited for an interview; the date will be communicated at least 20 days before by email. During the interview, applicants will be also given the opportunity to illustrate their research activity through a power point presentation of about 15 minutes to be held in English. |
| Nome dell'Ente finanziatore | CNR - Istituto Officina dei Materiali (IOM) |
|---|---|
| Tipologia dell'Ente | Public research |
| Paese dell'Ente | Italy |
| Città | TRIESTE |
| Codice postale | 34149 |
| Indirizzo | Area Science Park–Basovizza, Ed. MM Strada Statale14 Km 163.5 |
| Sito web | http://www.iom.cnr.it |
| supporto.reclutamento@spin.cnr.it |
| L'assegno finanziato/cofinanziato attraverso un EU Research Framework Programme? | No |
|---|
| Data di scadenza del bando | 01/02/2018 |
|---|---|
| Come candidarsi | Other |