Torna ai risultati della ricercaBando per assegno di ricerca
| Titolo del progetto di ricerca in italiano | Radiation Hardness assessment and defect studies of hybrid perovskites for x ray detectors applications |
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| Titolo del progetto di ricerca in inglese | Radiation Hardness assessment and defect studies of hybrid perovskites for x ray detectors applications |
| Campo principale della ricerca | Physics |
| Sottocampo della ricerca | Solid state physics |
| Campo principale della ricerca | Technology |
| Sottocampo della ricerca | Nanotechnology |
| Settore Concorsuale | 02 - Scienze fisiche |
| S.S.D | - |
| Descrizione sintetica in italiano | L'attività di ricerca è focalizzata sul monitoraggio degli stati difettivi e delle variazioni composizionali di film sottili di perovskite. Le analisi saranno condotte mediante metodi di caratterizzazione elettrica ed ottica (analisi della capacità-tensione, corrente-tensione e capacità in funzione della temperatura), tecniche di spettroscopia di carica (Deep Level Transient Spectroscopy, Photoinduced Transient Spectroscopy) e Surface Photovoltage Spectroscopy. Questo studio si concentrerà sull'indagine della correlazione tra gli stati difettivi e le prestazioni elettriche del semiconduttore, e sulla correlazione con le prestazioni dei dispositivi finali. I risultati ottenuti saranno fondamentali per la comprensione complessiva della fisica delle perovskiti a film sottile, nonché per lo sviluppo di sensori di radiazione avanzati. |
| Descrizione sintetica in inglese | The post-doc research activity is focused on monitoring defect states and compositional changes of the perovskite layers. The analyses will be carried out by electrical and optical characterization methods (temperature dependent current-voltage and capacitance voltage analyses), charge spectroscopy techniques (Deep Level Transient Spectroscopy, Photo induced transient spectroscopy) and Surface Photovoltage Spectroscopy. This study will focus on the investigation of the correlation between the defect states and the electrical performance of the semiconductor, which is related to the performance of the final devices. The results obtained will be fundamental for the overall understanding of physics of thin film perovskites, as well as for the development of advanced perovskites radiation sensors. |
| Data del bando | 10/03/2021 |
| Paesi in cui può essere condotta la ricerca |
Italy |
| Paesi di residenza dei candidati |
All |
| Nazionalità dei candidati |
All |
| Sito web del bando | https://bandi.unibo.it/ricerca/assegni-ricerca |
| Destinatari dell'assegno di ricerca (of target group) |
Early stage researcher or 0-4 yrs (Post graduate) |
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| Criteri di selezione in italiano (breve descrizione) | il bando e la modulistica per partecipare alla procedura di valutazione comparativa sono disponibili all'indirizzo: https://bandi.unibo.it/ricerca/assegni-ricerca |
| Criteri di selezione in inglese (breve descrizione) | to apply for research grants fill out the form available at the following address: https://bandi.unibo.it/ricerca/assegni-ricerca |
| Nome dell'Ente finanziatore | ALMA MATER STUDIORUM - UNIVERSITA' DI BOLOGNA - - CENTRO INTERDIP. CIRI MECCANICA AVANZATA E MATERIALI |
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| Tipologia dell'Ente | Public research |
| Paese dell'Ente | Italy |
| Città | Bologna |
| Sito web | http://www.unibo.it |
| aric.ciri-personale@unibo.it |
| L'assegno finanziato/cofinanziato attraverso un EU Research Framework Programme? | No |
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| Data di scadenza del bando | 25/03/2021 - alle ore 00:00 |
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| Come candidarsi | Other |