Torna ai risultati della ricercaBando per assegno di ricerca
| Titolo del progetto di ricerca in italiano | La (in) affidabile chip: problemi di errori soft in ultra-scalati tecnologie CMOS |
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| Titolo del progetto di ricerca in inglese | The (un)reliable chip: soft error problems in ultra-scaled CMOS technologies |
| Settore Concorsuale | 09 - Ingegneria industriale e dell'informazione |
| S.S.D | - |
| Descrizione sintetica in italiano | Radiazione Inonizing è una causa a conoscenza di guasti temporanei e permanenti nei dispositivi elettronici. Errori Soft (SE) sono dovuti alle particelle ionizzanti deposito di carica a sufficienza in un elemento di memoria da installare, che non provoca danni permanenti, ma solo informazioni af perdita. Poiché i dispositivi CMOS sono in fase di ridimensionamento, SE diventa sempre più importante. |
| Descrizione sintetica in inglese | Inonizing radiation in a know cause of temporary and permanent failures in electronic devices. Soft Errors (SE)are due to ionizing particles depositing enough charge in a memory element to up set, causing no permanent damage, but only loss af information. As CMOS devices are being scaled down, SE becomes increasingly important. |
| Data del bando | 21/11/2011 |
| Paesi in cui può essere condotta la ricerca |
Italy |
| Paesi di residenza dei candidati |
Italy |
| Nazionalità dei candidati |
Italy |
| Sito web del bando | http://www.dei.unipd.it/wdyn/?IDsezione=7159 |
| Destinatari dell'assegno di ricerca (of target group) |
Experienced researcher or 4-10 yrs (Post-Doc) |
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| Nome dell'Ente finanziatore | Università degli Studi di Padova- Dipartimento di Ingegneria dell'Informazione |
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| Tipologia dell'Ente | Public research |
| Paese dell'Ente | Italy |
| Città | Padova |
| Sito web | http://www.dei.unipd.it |
| alessandro.paccagnella@dei.unipd.it |
| L'assegno finanziato/cofinanziato attraverso un EU Research Framework Programme? | No |
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| Data di scadenza del bando | 07/12/2011 - alle ore 00:00 |
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| Come candidarsi | Other |