Torna ai risultati della ricercaBando per assegno di ricerca
| Titolo del progetto di ricerca in italiano | Test e affidabilità dei sistemi di elaborazione di nuova generazione - Rif. 002/2015 |
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| Titolo del progetto di ricerca in inglese | Test and Reliability of next generation computing systems - Ref. 002/2015 |
| Settore Concorsuale | 09 - Ingegneria industriale e dell'informazione |
| S.S.D | ING-INF/05 - SISTEMI DI ELABORAZIONE DELLE INFORMAZIONI |
| Descrizione sintetica in italiano | Lo scopo di questo programma è di studiare e sviluppare nuovi approcci al collaudo e all’incremento dell’affidabilità dei sistemi elettronici di nuova generazione. Il programma si focalizzerà sui seguenti aspetti specifici: Architetture riconfigurabili e architetture SIMD: utilizzo di sistemi riconfigurabili e architetture SIMD per l’accelerazione hardware in ambienti safety critical (automotive, spazio, ecc.). Early System Reliability evaluation: sviluppo di modelli di predizione dell’affidabilità di sistemi complessi tenendo in considerazione le componenti hardware e le componenti software. Universal memories e ECC: analisi dell’affidabilità e metodologie di test ed affidabilità (ECC) per le nuove tecnologie di memoria (RRAM, MRAM, ecc.). Tali attività si svolgeranno nell’ambito dei progetti sotto-elencati (e di eventuali altri acquisiti in futuro sui medesimi temi di questo programma di ricerca): • STEPS2 – 2013-2014 • CLERECO – 2013-2016 |
| Descrizione sintetica in inglese | The goal of this program is to study and develop innovative approaches for testing and reliability of next generation electronic systems. The program will focus on the following specific activities: Reconfigurable architectures and SIMD architectures: use of reconfigurable devices and SIMD architectures for hardware acceleration in safety critical applications (automotive, space, etc.). Early System Reliability evaluation: development of prediction models for the system reliability evaluation at the early stages of the design project taking into account both the hardware and the software components of the system. Universal memories and ECC: reliability analysis and test and fault tolerance solutions (ECC) for new universal memory technologies (RRAM, MRAM, etc.). Research activities will be carried out in the framework of the following funded projects (or future projects in similar research fields): • STEPS2 – 2013-2014 • CLERECO – 2013-2016. |
| Data del bando | 08/01/2015 |
| Paesi in cui può essere condotta la ricerca |
EUROPE |
| Paesi di residenza dei candidati |
EUROPE |
| Nazionalità dei candidati |
EUROPE |
| Sito web del bando | http://www.swas.polito.it/services/concorsi/assric.asp |
| Destinatari dell'assegno di ricerca (of target group) |
Early stage researcher or 0-4 yrs (Post graduate) |
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| Criteri di selezione in italiano (breve descrizione) | Il bando e la modulistica per partecipare alla valutazione comparativa sono disponibili all'indirizzo: http://www.swas.polito.it/services/concorsi/assric.asp |
| Criteri di selezione in inglese (breve descrizione) | To apply for research grants fill out the form available at the following address: http://www.swas.polito.it/services/concorsi/assric.asp |
| Nome dell'Ente finanziatore | Politecnico di Torino |
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| Tipologia dell'Ente | Public research |
| Paese dell'Ente | Italy |
| Città | Torino |
| Sito web | http://www.polito.it/ |
| ruo.persns@polito.it | |
| Telefono | +39 011 090 6136 |
| L'assegno finanziato/cofinanziato attraverso un EU Research Framework Programme? | No |
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| Data di scadenza del bando | 19/01/2015 |
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| Come candidarsi | Other |